Scanning electron microscope JSM-IT210LA

JSM-IT210LA — bu JEOL kompaniyasining zamonaviy skanerlovchi elektron mikroskopi (SEM) bo‘lib, u yuqori aniqlikdagi tasvir olish va real vaqt rejimida elementar tahlil qilish imkoniyatlarini taqdim etadi.

🧪 Asosiy funksiyalari va imkoniyatlari

• Yuqori aniqlikdagi tasvirlash: 30 kV kuchlanishda 3 nm gacha bo‘lgan aniqlikda tasvir olish imkonini beradi, bu esa nano darajadagi tuzilmalarni o‘rganish uchun juda muhimdir. de
• Avtomatlashtirilgan tahlil ("Simple SEM"): Foydalanuvchi tomonidan tanlangan ko‘rish maydoniga asoslanib, mikroskop avtomatik ravishda SEM tasvirlarini va EDS (energiya dispersiv rentgen spektroskopiyasi) tahlilini amalga oshiradi. Bu funksiyalar laboratoriya ishlarini soddalashtiradi va samaradorlikni oshiradi. atpress.com
• Real vaqtli elementar tahlil ("Live Analysis"): Mikroskop real vaqt rejimida EDS spektrlari va elementar xaritalarni ko‘rsatadi, bu esa namunadagi elementlarning tarkibini tezda aniqlash imkonini beradi.
• "Zeromag" funksiyasi: Optik tasvirdan SEM tasviriga silliq o‘tishni ta'minlaydi, bu esa namunadagi kerakli joyni tezda topish va tahlil qilishni osonlashtiradi. com
• 5 o‘qli motorli namunalar stoli: X, Y, Z, aylanish va og‘ish o‘qlari bo‘yicha harakatlanish imkoniyati mavjud bo‘lib, bu murakkab shakldagi namunalarni ham oson tahlil qilishga yordam beradi.
• Katta hajmli EDS detektori (60 mm²): Katta maydonli detektor yordamida qisqa vaqt ichida yuqori sifatli elementar xaritalar olish mumkin, bu ayniqsa issiqlikka sezgir namunalar uchun foydalidir.

⚙️ Texnik xususiyatlari

• Rezolyutsiya: Yuqori vakuum rejimida 3 nm (30 kV), past vakuum rejimida 4 nm (30 kV)
• Kuchlanish diapazoni: 0,3 dan 30 kV gacha
• Kattalashtirish diapazoni: ×5 dan ×300,000 gacha
• Namuna o‘lchami: Diametri 125 mm gacha bo‘lgan namunalarni kuzatish, 152 mm gacha bo‘lgan namunalarni joylashtirish imkoniyati mavjud
• Vakuum bosimi: 10 dan 100 Pa gacha